Izdelki za interaktivne astronomske mreže (4)

3D senzorji - 2D/3D merjenje

3D senzorji - 2D/3D merjenje

The new generation of Micro-Epsilon’s 3D sensors impresses with high accuracy during measurement and assessment of components and surfaces. The surfaceCONTROL and reflectCONTROL inspection systems from Micro-Epsilon are intended for matt and shiny surfaces respectively. The 3D snapshots are recorded in a short time and provide detailed 3D point clouds. These 3D sensors are used, e.g., for geometric component testing, position determination, presence checks and the measurement of flatness or planarity. Thanks to their high performance, the sensors are used for inline applications, on robots and also for offline inspection.
DataTrace - Micropack III Zapisovalnik Podatkov

DataTrace - Micropack III Zapisovalnik Podatkov

Datenlogger für die Druck-Überwachung in Sterilisationsprozessen und Pasteurisationsprozessen
Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

System CoMeT służy do pomiaru skuteczności ekranowania (impedancji przenoszenia, tłumienności ekranowania i tłumienności sprzężenia) kabli koncentrycznych i symetrycznych, złącz, tulei, elementów rozdzielczych itp. Oryginalny CoMeT (Coupling Measuring Tube) stał się kompletnym systemem. Zasadniczo kablowa stacja pomiarowa składa się z następujących elementów podstawowych: Oprócz systemów rur okrągłych o różnych wymiarach dla kabli i złączy, istnieją również tzw. cele "triaxialne", które oferują większą objętość komory pomiarowej dla części, które ze względu na swoją geometrię (gniazda, rozdzielacze, itp.) nie mogą być wprowadzone do jednej z rur.
Nexview™ NX2 - Optični 3D profilometer površine

Nexview™ NX2 - Optični 3D profilometer površine

Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die anspruchsvollsten Anwendungen entwickelt und kombiniert besonders hohe Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Anwendungsflexibilität und Automatisierung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferometer (CSI) Profilometer. Diese vollständig berührungslose Technologie optimiert die Rentabilität, indem sie bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompromisslose Profilometer. 1,9 MP Großflächen Hochgeschwindigkeitsmessungen Automatisierte Teilefokussierung und -einstellung Messmitelfähige Performance Die vibrationsresistente Messtechnik